ThetaMetrisis 膜厚量測/鍍膜量測

ThetaMetrisis 是 NCSR「Demokritos」微電子研究所的衍生公司，於 2009 年在希臘雅典成立。該公司專門開發和製造用於對各個領域的塗層進行精確、快速和無損特性的先進工具。
ThetaMetrisis 為全球的工業和研究組織提供服務，是尖端測量解決方案的值得信賴的合作夥伴。 其創新核心是白光反射光譜法 (WLRS)，這是一項突破性的技術，可同時精確測量堆疊薄膜和厚膜的厚度和折射率。
該技術提供了令人印象深刻的測量範圍，從埃（Å）到公釐(mm)，可滿足各種應用和行業的需求。